transzparens

< Nebula mobiltelefon és digitális termék lítium akkumulátor tesztrendszer >

Nebula mobiltelefon és digitális termék lítium akkumulátor tesztrendszer

Ez a rendszer alkalmas a mobiltelefonok és digitális termékek lítium akkumulátorok gyártósorában lévő kész vagy félkész termékek alapvető tulajdonságainak felmérésére, elsősorban a védelmi IC teszt alapvető tulajdonságaira és a csomagba integrált tesztrendszer kidolgozására (támogató I2C, SMBus, HDQ kommunikációs protokollok).

JELLEMZŐK

Leírás

Ez a Pack átfogó tesztrendszere, amelyet a végtermékek/félkész termékek alap- és védelmi jellemzőinek tesztelésére alkalmaznak a mobiltelefonok és a digitális termékek Li-ion akkumulátorcsomag gyártósorain, valamint a védelmi IC-k (Támogatják az I2C, SMBus, HDQ kommunikációs protokollokat). ).

A tesztrendszer főként alapvető teljesítménytesztből és védelmi teljesítménytesztből áll.Az alapvető teljesítményteszt magában foglalja a nyitott áramköri feszültségtesztet, a terhelés-feszültség tesztet, a dinamikus terhelési tesztet, az akkumulátor belső ellenállásának vizsgálatát, a hőellenállás tesztet, az ID Ellenállás tesztet, a normál töltési feszültség tesztet, a normál kisütési feszültség tesztet, a kapacitástesztet, a szivárgási áram tesztet;a védelmi teljesítményteszt magában foglalja a töltés túláram elleni védelmi tesztjét: a töltés túláramvédelmi funkcióját, a késleltetési idő elleni védelmet és a helyreállítási funkció tesztjeit;kisülési túláramvédelmi teszt: kisütési túláramvédelmi funkció, késleltetési idő elleni védelem és helyreállítási funkció tesztje;rövidzárlatvédelmi teszt.

A tesztrendszer a következő jellemzőkkel rendelkezik: Független egycsatornás moduláris felépítés és adatjelentés funkció, amely nemcsak az egyes PACK-ok tesztelési sebességét növelheti, hanem könnyen karbantartható is;a PACK védelmi állapotainak tesztelése közben a tesztert át kell kapcsolni a megfelelő rendszerállapotba.Relé használata helyett a tesztelő nagy energiafogyasztású MOS érintés nélküli kapcsolót alkalmaz a tesztelő megbízhatóságának növelése érdekében.A tesztadatokat pedig fel lehet tölteni a szerveroldalra, ami könnyen vezérelhető, nagy biztonságú és nem könnyű elveszíteni.A tesztrendszer nem csak a „Helyi adatbázis” tárolási tesztrendszer teszteredményeit biztosítja, hanem a „szerver távoli tárolás” módot is.Az adatbázisban lévő összes vizsgálati eredmény exportálható, ami könnyen kezelhető.A teszteredmények „adatstatisztikai függvénye” felhasználható az egyes PCM-esetek „minden tesztprojekt nem teljesítési arányának” és „bruttó tesztjének” elemzésére.

Jellemzők

Moduláris felépítés: Független egycsatornás moduláris kialakítás az egyszerű karbantartás érdekében

Nagy pontosság: a kimeneti feszültség legnagyobb pontossága ± (0,01RD+0,01%FS)

Gyorsteszt: a leggyorsabb, 1,5 másodperces tesztsebességgel a gyártási ciklusok jelentősen felgyorsulnak

Nagy megbízhatóság: nagy fogyasztású MOS érintés nélküli kapcsoló a teszter megbízhatóságának növelése érdekében

Kompakt méret: elég kicsi és könnyen hordozható

——

MŰSZAKI ADATOK

Modell

BAT-NEPDQ-01B-V016

Paraméter

Hatótávolság

Pontosság

Töltőfeszültség kimenet

0,1~5V

±(0,01%RD +0,01%FS)

5-10V

±(0,01%RD+0,02%FS )

Töltőfeszültség mérés

0,1~5V

±(0,01%6R.D. +0,01%FS)

5-10V

±(0,01%RD +0,01%FS)

Töltőáram kimenet

0,1~2A

±(0,01%RD+0,5mA)

2-20A

±(0,01%RD+0,02%FS)

Töltőáram mérés

0,1~2A

± (0,01% RD+0,5 mA)

2-20A

± (0,02% RD+0,5 mA)

PACK feszültség mérés

0,1-10V

±(0,02% RD +0,5 mV)

Kisülési feszültség kimenet

0,1~5V

±(0,01%RD +0,01%FS)

0,1-10V

±(0,01%RD+0,02%FS )

Kisülési feszültség mérése

0,1~5V

±(0,01%RD +0,01%FS)

0,1-10V

±(0,01%RD +0,01%FS)

Kisütőáram kimenet

0,1~2A

± (0,01% RD+0,5 mA)

2-30A

±(0,02% RD+0,02% FS)

Kisülési áram mérése

0,1-2A

± (0,01% RD+0,5 mA)

2-30A

± (0,02% RD+0,5 mA)

Szivárgási áram mérése

0,1-20uA

±(0,01% RD+0,1 uA)

20-1000 uA

±(0,01%RD +0,05%FS)

Elérhetőség

Írja ide üzenetét és küldje el nekünk