Kínai Nebula Cell Phone Digital Products akkumulátor PCM tesztrendszer gyártója és beszállítója |Ködfolt

Nebula mobiltelefon digitális termékek akkumulátor PCM tesztrendszer

Ezt az eszközt arra tervezték, hogy gyorsan felmérje az egybuszos Li-ion akkumulátorvédő kártyák alapvető és védelmi jellemzőit az 1s és 2s akkumulátorokhoz, az US TI sorozatokat (például BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2735) átfogó IC segítségével.

KAPCSOLATFELVÉTEL MOST

JELLEMZŐK

Kompatibilis a Gas Gauge IC-k széles skálájával, nagy pontossággal és gyors tesztelési sebességgel.

A független, többcsatornás moduláris felépítés megkönnyíti a karbantartást és a cserét, miközben gazdag adatjelentési lehetőségeket biztosít.

Magas fokú pontossággal büszkélkedhet, így ideális választás igényes vásárlóink számára.

MŰSZAKI ADATOK

Modell	BAT-NEDQ-04-V010
Paraméter	Hatótávolság	Pontosság
Kimeneti feszültség	5-5OO0mV	±0,2 mV
Kimeneti áram	0-3000mA	0,01% RD±0,05%FS
Állandó áramkimenet	30A~50A	20 ms
	20A~30A	±0,05% RD±0,02%FS
	3A-20A	±0,01% RD±0,02%FS
	5mA ~ 3000mA	±0,01% RD±0,02%FS
Töltő kimeneti/ mérési feszültség	100-5000 mV	±0,01% RD±0,01%FS
Töltő kimeneti/ mérési feszültség	5000-10000 mV	±0,01% RD±0,02%FS